SJ 50033.148-2000 半导体分立器件3DK35B～F功率开关晶体管详细规范
|
ID： |
09FFCAD2552948FDAE18E3E3A4FF6FAB |
|
文件大小(MB)： |
0.51 |
|
页数： |
12 |
|
文件格式： |
|
|
日期： |
2024-7-27 |
|
购买： |
文本摘录（文本识别可能有误，但文件阅览显示及打印正常，pdf文件可进行文字搜索定位）：
中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/148—2000,半导体分立器件,3DK35B.F功率开关晶体管,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for type 3DK35B.F,power switching transistors,2000-10-20 发布2000-10-20 实施,中华人民共和国信息产业部 批准,下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3DK35B.F型功率开关晶体管,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for type 3DK35B~F,power switching transistors,SJ 50033/148—2000,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了 3DK35B.F型功率开关晶体管（以卜’简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用丁器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33A-97《半导体分立器件总规范》中1.3.1条的规定,提供的质量保证等级为,普军、特军和超特军三级。分别用字母和、JT和JCT表示,2引用文件,GB" 4587—94半导体分立器件利集成电路 第7部分:双极型品体管,GB/T 7581-87 丒导体分立器件外形尺寸,GB" 12300—90功率晶体管安全I:作区测试方法,GJB33A-97 +导体分立器件总规范,GJB 128A-97半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细耍求,各项要求应按GJB 33A和本规范的规定,3.2 设计和结构,器件的设计和结构应按GJB 33A和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和镀涂,中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布2000-10-20 实施,_______________________________SJ 50033/148—2000 _____________________________,引出端材料应为可伐,引出端表面应为锡层或银层。对引出端涂层另有要求时,在合,同或订单中应予以规定,3. 2.2器件的结构,管芯采用外延平面结构，管芯与管座之间采用高温冶金键合,3.2.3外形尺寸,外形尺寸应符合GB" 7581中B2—01B型（见图1）的规定,标志:管帽顶端,引出端识别:Eー发射极B—基极管壳一集电极,mm,ヽ弋号,、尺寸、,符^,B2—01B,min nom max,A 一一9.8,也一一1.52,他0.9 一1.1,.D 一— 15.0,d 一3.0 一,F — 一3.0,L 8.5 — 10.5,ム一— 1.5,タ尸4.0 一4.2,q 22.8 — 23.2,凡— — 9.5,ム一一4.3,S —■ 13.1 一,一一31.4,— 一19.0,图1外形图,3.3最大额定值和主要电特性,3.3.1最大额定值,注:1） 7c>25吋时按0.1 W/K的速率线性地降额,、、 特性,型じ 、、,尸」,7425 ℃,W,^CBO,V,修CEO,V,夕EBO,V,k,A,4,A,4,aC,T*,Stg,ヒ,3DK35B 50 50,3DK35C 80 80,3DK35D 15 110 110 5 3 0.5 175 -55-175,3DK35E 150 150,3DK35F 200 200,-2 -,SJ 50033/148-2000,3.3.2主要电特性（ム=25℃）,、特件,型六,%,&3V,/c=0.75 A,心kmA ムIf Rg),/c=0.75 A,4=0.075 V,V,4=1 A &=25 V,ん产ーん2Ho i A,ド,@二10 V,4=0.5 A,K/W,最小值最大值最大值最大值,3DK35B,3DK35C,3DK35D,3DK35E,3DK35F,20 0.25 1.0 0.9 1.8 0.6 10,3.4电则试要求,电测试应符合GB/T458?及本规范的规定,3.5标志,标志应符合GJB 33A和本规范的规定,器件上应有如下标志:,a.极性标志;,b,型号;,c,等级标志;,d,制造厂标志;,e.批的识别代码,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33A和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33A和本规范A组、B组、C组和E组检验的规定,4.3 筛选（仅对JT和JCT级）,筛选应按GJB 33A表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本,规范表1极限值的器件应予剔除,-3 一,SJ 50033/148—2000,筛选要求,筛 选,试验方法,GJB 128A,条 件,1.内部日检（封帽前） 2070 仅对JCT级产品,2.点温寿命,ホ:工作寿命（稳定烘焙）,1032 7A-175 ℃ r=96h,3.温度循环,（空气一空气）,1051 试验条件G, 20次,热响应GB/T4587 〃E=10V, 4^0.5 A,第”章,第1节11,小）W10K/W,4.恒定加速度2006 Y1方向98000 m/s2?不要求保持! min,9.中间测试电参数按本规范表1的A2分组规定,10.而温反偏1039 试验条件 A rA=150℃ Kcb=0.8 Kcb0 t=48h,11. PDA的"中间电参数测试按表1的规定测试/.BO” ^FE并做记录,12.功率老炼1039 试验条件 B ￡=162.5 ±12.5 °C, Kce=20……
……